HAST 非饱和高压加速老化试验箱
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HAST 非饱和高压加速老化试验箱

型号:AKS-TH 系列

产品简介

HAST非饱和高压加速老化试验箱是依托高温、高压、非饱和高湿复合应力原理设计的精密可靠性试验设备,通过密闭腔体调控非饱和蒸汽环境,加速水汽渗透速率,将自然环境数年的湿热老化过程压缩至数十至数百小时完成测试,规避饱和凝露造成样品假性失效问题,广泛应用于半导体IC、PCB线路板、连接器、光伏组件、高分子封装材料及汽车电子元器件的耐湿、密封性与加速寿命可靠性验证。

功能特点

  • 采用非饱和干蒸汽控湿技术,全程腔体无凝露滴水,试验环境贴合产品实际受潮工况,测试数据精准可靠;
  • 温、湿、压力三位一体闭环智能调控,温度、湿度、压力参数独立可编程设置,可自定义分段试验程序;
  • 内胆采用圆弧式316不锈钢压力容器结构,符合高压容器安全规范,耐高压耐腐蚀、腔体温场分布均匀;
  • 搭载高精度PID智能控制系统,温湿度、压力控制分辨率高,支持试验数据自动存储、记录与导出,可远程监控设备运行状态;
  • 兼容HAST、PCT、THB偏压等多种试验模式,标配偏压接线端子,满足带电加速老化测试需求,适配多行业测试标准;
  • 集成超温、超压、缺水、漏电、舱门未闭合多重安全联锁保护,异常自动报警、泄压停机,使用安全性高;
  • 整机结构紧凑,给排水自动化设计,节水省电,适配实验室、元器件产线质检工位摆放使用。
  • ISO 9001 质量体系
  • 非标定制支持
  • 交付验收服务
KEY SPECIFICATIONS

核心技术参数

关键指标可根据项目需求进行定制,以下为常用配置示例。

温度范围 -170℃ ~ +150℃
湿度范围 20% ~ 98%RH
内容积 225L / 可定制
升降温速率 3℃/min
APPLICATION VALUE

面向高可靠性验证的环境试验设备

适用于新能源汽车、电子电器、航空航天、光伏、半导体及材料可靠性验证场景,可覆盖研发验证、质量抽检、小批量生产验证等流程。

01 稳定控制 温湿度控制精度高,支持长周期连续运行。
02 结构可靠 箱体保温、风道循环与安全保护系统协同设计。
03 灵活定制 可按测试样品、场地、接口与标准要求进行方案配置。
PARAMETERS

详细参数

以下参数来自当前产品资料,后台可继续维护更多规格字段。

参数项目细分AKSHAST-420A
内容积(L)420L
工作室尺寸(mm)Φ(直径)420
D(深)540
外形尺寸(mm)W(宽)762
D(深)950
H(高)1689
温度范围+100℃ ~ +155℃
压力范围02~35kg/cm2(005~0343Mpa)
加压时间≤ 55min
温度波动度≤ ±0.5℃
温度均匀度≤ ±1℃
湿度范围65% RH ~ 100% RH
湿度波动度≤ ±3% RH
BIAS 偏压段子48 个端子(可按需求定制)
电源AC380V ±10%;50Hz ±2Hz
备注其他工作室尺寸、偏压端子、控制系统及安全配置均可定制。

符合标准

国际标准IEC 60068-2-66非饱和高压蒸汽恒定湿热试验
行业标准JEDEC JESD22-A110有偏压 HAST 高压加速湿热试验
行业标准JEDEC JESD22-A118非饱和 HAST 可靠性试验
汽车标准AEC-Q100 / AEC-Q101车规电子器件可靠性认证
PROJECT CONSULTATION

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